VeEX MTTplus320 10G综合测试仪
VeEX
MTTplus320是MTT PLUS平台上的双端口10G综合测试仪。迷你的机身，可更换的测试模块，让MTT PLUS能在更多测试领域发挥作用。不仅是OTDR、WiFi和SDH/OTN/Ethernet，更可以扩展到支持更多的新鲜测试领域，主机独特的可选内置摄像头，可用于现场测试的条码/二维码扫描和解码以及现场测试记录，内置的感光器件，可根据外部光环境自动调节屏幕对比度以适应不同的外部光环境。
MTTplus320用于传统OTN/SDH/SONET/PDH/DSn网络功能测试的同时，还可支持基于移动回程技术的SyncE、1588 PTPv2、电信级以太网和CPRI测试功能。
产品资料
相关软件
用户手册
资质认证
测试模块涵盖了传统网络技术，先进的接入网（电缆和光缆）、FTTx、城域网、电信级以太网和传输技术
非常实用的GUI设计，方便技术人员操作试
支持未来测试模块的更新
非常经济、实用的测试平台
可选的MTT适配卡支持原来的MTT模块，避免原来的投资费用损失
GUI设计沿用测试模块原来的风格，并跟其他VeEX产品有相似的UI，降低技术人员培训时间
设备可以通过USB、以太网、WiFi以及数据卡进行连接
4个USB接口 (3个USB A和1个micro-USB B)
可以更快速的传输测试结果到U盘
可内置GPS选件
可内置相机选件用于工作页面的文档处理，二维码和条码扫描
小便携包，重量轻方便携带
现场可更换电池包
大LCD 触摸屏操作以及感光传感器配置
支持SDH/SONET测试，速率STM-0/1/4/16/ 64和OC1/3/12/48/192
支持OTN测试，支持速率OUT-0/1/2/OTU1e/ OTU2e/ODUflex
支持PDH测试, E1, E2, E3, DS1, DS3, E4
双PDH和DSn接口
支持E1, E3和DS1, DS3非侵入式的脉冲模板分析
光功率，电接口信号电平，频率测试
通道踪迹和指针生成和分析
APS测试
支持所有接口和负荷映射的环路时延测试
开销监测和字节解码
级联监测功能
抖动漂移分析 (E1, E3, DS1, DS3 和STM-1o, OC-3)
速率：614.4 Mbps, 1.2288 Gbps, 2.4576 Gbps, 3.072 Gbps, 4.9152Gbps, 6.144Gbps, 9.8304Gbps
支持带有PRBS码样的BER测试以及LOS, LOF, SDI, RAI告警产生
时延测试，SDT测试，可支持Master和Slave仿真
双10GE SFP+端口, 兼容双100Base-FX/ 1000Base-X SFP端口，双10/100/ 1000Base-T RJ45端口
支持用于SAN网络的1G/2G/4G/8G/10G光纤通道测试
V-SAM测试包符合ITU-T Y.1564标准
IPv4和IPv6数据流产生
吞吐量、时延、帧丢失、背靠背测试用于RFC2544标准
支持IEEE 802.3ah, ITU-T Y.1731, IEEE 802.1ag和MPLS-TP OAM，支持Q-in-Q (VLAN 堆栈) 和多种MPLS标签
同步分组网络的完整解决方案
支持IEEE 1588v2/PTP和SyncE/ITU-T G.8261标准
Master和Slave时钟仿真
IEEE 1588v2/PTP协议监测和解码
IEEE 1588v2/PTP PDV分析
可以从SyncE或PTP恢复时钟并输出到E1或DS1接口
支持ESMC SSM的产生、监测、解码
| 项目 | 参数 |
| 型号 | MTTplus320 |
| 显示屏 | 7” TFT彩色触摸屏 |
| 电池 | 5200mAh锂电池，10.8VDC |
| 电源 | 输入：100-240VAC，50-60Hz；输出：15VDC，5.33A |
| 温度 | 操作：0~45℃；存储：-20~70℃ |
| 湿度 | 5%~95%非冷凝 |
| 重量 | <3kg |
| 尺寸 | 290×140×66mm |
800-819-8191
